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NS系列半導體臺階儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率，同時，其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技...

VX8000全自動二次元閃測儀采用雙遠心高分辨率光學鏡頭，結合高精度圖像分析算法，并融入一鍵閃測原理。CNC模式下，只需按下啟動鍵，儀器即可根據工件的形狀自動定...

基于飛機裝配精度激光跟蹤檢測儀器的RobotMaster機器人套件為工業機器人空間位置精度測量標定和性能檢測提供高效可行的解決方案，既提供基于光學靶球的經濟方案...

NS系列半導體臺階高度測量儀器電動X/Y平臺（150mm×150mm）搭配8英寸晶圓載物臺，適配半導體晶圓、光伏基板等大尺寸樣品。可精準測量臺階高度（...

VT6000高精度共聚焦顯微鏡基于共聚焦技術，結合精密Z向掃描與智能3D建模算法，可實現對納米至微米級表面形貌的高精度測量，覆蓋光滑、粗糙、低反射至高反射等多樣...

SuperViewW高精度光學3D表面輪廓儀基于白光干涉技術，分辨率達0.1nm，支持從超光滑到粗糙表面的全類型樣件檢測。覆蓋半導體、3C電子、光學加工、汽車零...

Mars高剛性結構三坐標測量儀采用的測量技術和精密的傳感器，結合精密的機械結構和溫度補償系統，精度高、重復性優。不管是復雜的三維形狀還是細微的尺寸差異，每一次測...

GTS微米級高精度激光跟蹤儀被廣泛應用在飛機、汽車、船舶、航天、機器人、核電、軌道交通裝備制造行業以及大型科學工程、工業母機的高精密加工和裝配中，能夠解決大型、...

CEM3000實驗室臺式掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。此外，該系列臺式電鏡也...

VT6000多功能共聚焦顯微鏡主要應用于半導體、光學膜材、顯示行業、超精密加工等諸多領域中的微觀形貌和輪廓尺寸檢測中，其次是對表面粗糙度、面積、體積等參數的檢測...

SuperViewW白光干涉光學膜厚測量儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。

高精度cnc三坐標測量機采用的測量技術和精密的傳感器，結合精密的機械結構和溫度補償系統，精度高、重復性優。不管是復雜的三維形狀還是細微的尺寸差異，每一次測量都能...

GTS大型工件尺寸公差激光跟蹤檢測儀器集激光干涉測距技術、光電檢測技術、精密機械技術、計算機及控制技術、現代數值計算理論于一體，是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標...

中圖儀器CEM3000系列實驗室桌面型掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。此外，該...

中圖儀器高精度三座標測量儀關鍵部件一體鑄造成型，結構緊湊、重量輕、強度高，運行更為快速平穩。采用的測量技術和精密的傳感器，結合精密的機械結構和溫度補償系統，精度...

CEM3000系列高易用性掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調節。具有出色的電子光學系統，優于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數下的清晰成像，能...

CEM3000系列鎢燈絲掃描電子顯微鏡外型緊湊，空間適用性強，整機采用大量的抗干擾設計，避免使用環境造成的影響，拓寬了應用范圍。同時，該系列臺式電鏡具有非常豐富...

SuperViewW白光干涉三維光學形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀...

GTS大范圍激光追蹤測量儀系統由計算機、跟蹤測量站、目標鏡組成，將水平和垂直兩個方向的角度測量與距離測量結合在一起，構成一個球坐標測量系統；通過目標鏡完成空間幾...

Mars國產移動式三坐標支持觸發探測系統，能夠對各種零部件的尺寸、形狀及相互位置關系進行檢測。支持中圖Power DMIS、Rational DMIS、ARCO...